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Identifying Apple Surface Defects Based on Gabor Features and SVM Using Machine Vision

机译：使用机器视觉基于Gabor功能和SVM识别苹果表面缺陷

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Part 1: Simulation, Optimization, Monitoring and Control Technology

机译：第1部分：仿真，优化，监视和控制技术

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作者
Huang, Wenqian; Zhang, Chi; Zhang, Baihai;
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年度 2011
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